Flux line lattice structure and behavior in antiphase boundary free vicinal YBa2Cu3O7-delta thin films

Field angle dependent critical current, magneto-optical microscopy, and high resolution electron microscopy studies have been performed on YBa2Cu3O7-d thin films grown on mis-cut substrates. High resolution electron microscopy images show that the films studied exhibited clean epitaxial growth with...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
Main Authors: Durrell, John (Author), Mennema, S (Author), Jooss, C (Author), Gibson, G (Author), Barber, Zoe (Author), Zandbergen, HW (Author), Evetts, JE (Author)
פורמט: IRs
יצא לאור: Journal of Applied Physics, 2005-06-10T14:06:27Z.
נושאים:
גישה מקוונת:Get full text
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!